檢索結果:共1筆資料 檢索策略: "Sheng-Lyang Jang".ecommittee (精準) and ckeyword.raw="場效電晶體"
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當傳統金氧半元件微縮化至深次微米製程,新的可靠性問題產生了。這其中包含了短通道效應、熱載子效應、閘極引起汲極漏電流。穿透式場效電晶體在高度微縮化時可以提供較小的短通道效應、小的熱載子效應、小的閘極引…